美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）宣布主辦第二屆“設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005）。延承2004年第一屆DVTF的成功之勢(shì)，本屆論壇將于2005年4月15日在上海國(guó)際會(huì)議中心舉行，NI誠(chéng)邀行業(yè)內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域的多家優(yōu)秀企業(yè)，如英特爾（Intel）、科梁科技（AEETEK）等共同參與，為廣大測(cè)試測(cè)量行業(yè)的工程技術(shù)人員提供一個(gè)絕佳的學(xué)習(xí)與交流平臺(tái)。

主辦商負(fù)責(zé)人，NI中國(guó)分公司技術(shù)市場(chǎng)經(jīng)理朱君女士表示：“虛擬儀器技術(shù)一直與最尖端的商業(yè)科技密不可分，為工程師們和科學(xué)家們提供更強(qiáng)大的工具，完成測(cè)試測(cè)量和自動(dòng)化工作。在此次活動(dòng)中，NI攜手其他行業(yè)先鋒共同展示最新技術(shù)，希望能夠提供一個(gè)學(xué)習(xí)的平臺(tái)來幫助用戶解決實(shí)際應(yīng)用中的挑戰(zhàn)?！?br/>
此次論壇將分為熱點(diǎn)技術(shù)專題與實(shí)時(shí)應(yīng)用專題同時(shí)進(jìn)行。10余場(chǎng)內(nèi)容豐富的專題研討會(huì)，現(xiàn)場(chǎng)的產(chǎn)品展示，與各參展商和行業(yè)內(nèi)人士的面對(duì)面交流，必將使您不虛此行，絕對(duì)是不容錯(cuò)過的行業(yè)盛會(huì)！

研討會(huì)內(nèi)容：
一、熱點(diǎn)技術(shù)專題為設(shè)計(jì)、測(cè)試以及自動(dòng)化行業(yè)的軟/硬件工程師、以及希望學(xué)習(xí)測(cè)試測(cè)量行業(yè)發(fā)展趨勢(shì)和最新技術(shù)的專業(yè)人士而度身定制，專題包括：
-最新總線標(biāo)準(zhǔn)—PCI Express, 了解如何運(yùn)用這一技術(shù)來減少測(cè)試工作的時(shí)間，并解決新的應(yīng)用問題；
-運(yùn)用Microsoft.NET技術(shù)來開發(fā)測(cè)試及測(cè)量應(yīng)用；
-運(yùn)用了LabVIEW和FPGA的NI最新RIO技術(shù)，使您自定義測(cè)量硬件電路，等。

二、實(shí)時(shí)應(yīng)用專題針對(duì)希望搭建一個(gè)具有魯棒性、可靠性和確定性的測(cè)量、控制及自動(dòng)化系統(tǒng)的專業(yè)人士，在這一主題的論壇中，您將了解到NI及其它行業(yè)專家為測(cè)量及控制系統(tǒng)所提供的實(shí)時(shí)平臺(tái)。

多年來，NI依托其旗艦產(chǎn)品LabVIEW圖形化開發(fā)環(huán)境和全系列的模塊化硬件，為世界各地的用戶提高生產(chǎn)效率并降低成本。此次NI中國(guó)聯(lián)合其他行業(yè)先鋒舉辦技術(shù)論壇，也是為了更好地服務(wù)于本地用戶，提供最大限度的支持。請(qǐng)?jiān)诰€報(bào)名，或發(fā)送email到：china.info@ni.com

時(shí)間和地點(diǎn)：
2005年4月15日 9:00:00 a.m. 上海國(guó)際會(huì)議中心

更多信息：
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