簡介:
高速的數(shù)字電路和通信系統(tǒng)的測試在當(dāng)今變得越來越普遍，本次研討會(huì)將涉及高速數(shù)字信號(hào)測試的基本概念并指導(dǎo)用戶構(gòu)建數(shù)字自動(dòng)化測試系統(tǒng)。同時(shí)您將深入了解到最常用的兩類數(shù)字應(yīng)用：數(shù)字接口測試和數(shù)字激勵(lì)／響應(yīng)測試，涉及的具體應(yīng)用包括LCD測試，功能測試以及比特誤碼率測試等。研討會(huì)上還將貫穿實(shí)際的應(yīng)用演示和真實(shí)的案例分析，幫助您更好的理解數(shù)字信號(hào)的測試應(yīng)用。

您將通過本次研討會(huì)：
了解數(shù)字信號(hào)測試的基本概念和發(fā)展趨勢
了解NI提供的高速數(shù)字信號(hào)測試解決方案
共同探討不同的數(shù)字信號(hào)應(yīng)用和實(shí)例分析

涉及的產(chǎn)品/應(yīng)用/演示包括：
PXI，高速數(shù)字I/O，LabVIEW

用戶案例介紹：
LCD測試和高速數(shù)據(jù)流盤

網(wǎng)絡(luò)資源：
LabVIEW8.5中文評(píng)估版軟件
PXI Express混合信號(hào)儀器視頻教程

時(shí)間地點(diǎn)：
2008年1月15日 14：00——17：00（13：45開始進(jìn)場）
上海新錦江大酒店4樓蘭花廳（上海盧灣區(qū)長樂路161號(hào)）