歐姆龍成功事例 | IC芯片浮起的穩(wěn)定檢測方案
2025/5/22 23:18:29
應(yīng)用介紹
【行業(yè)】SEMI
【設(shè)備】測試分選機
【用途】用于將IC芯片按照要求進行分類和分選
應(yīng)用場景
tray盤內(nèi)IC芯片的浮起檢測。
解決課題
1、需要滿足設(shè)備的小型化設(shè)計,達到省空間的目的。
2、實現(xiàn)對于芯片1mm浮起的穩(wěn)定檢測。
價值提案
核心產(chǎn)品:智能激光傳感器 E3NC
價值點1.
備有網(wǎng)絡(luò)型放大器,方便導(dǎo)入并監(jiān)控傳感器實時狀態(tài)。同時,放大器采用分離設(shè)計,既保證了檢測頭的體積小,也可在不同環(huán)境下調(diào)整放大器設(shè)置。
價值點2.
1級激光光源,1m檢測距離時的2mm光斑大小,確保IC芯片微小浮起的穩(wěn)定檢測。
相關(guān)產(chǎn)品
智能激光傳感器E3NC
https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3316/
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王靜
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