歐姆龍成功事例 | EFEM多材質(zhì)晶圓的凸出檢測方案
2025/6/26 21:56:13
應(yīng)用介紹
【行業(yè)】SEMI
【設(shè)備】EFEM
【用途】用于半導(dǎo)體前道各種工藝機臺的晶圓傳輸
使用場景
檢測cassette內(nèi)wafer是否有凸出,防止自動取片時發(fā)生異常。
場景:cassette內(nèi)wafer的突出檢查
解決課題
應(yīng)對不同材質(zhì)wafer的檢測需求,例如:Si、SiC、Ga2O3等。
價值提案
核心產(chǎn)品:光纖傳感器 E32/E3NX-FA
配備自動調(diào)諧、以及APC&DPC自動投光&受光校正,方便快速對應(yīng)各種透明度的wafer。
相關(guān)產(chǎn)品
光纖傳感器E32系列
https://www.fa.omron.com.cn/products/family/1532/
智能光纖放大器E3NX-FA
https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3161/
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審核編輯(
李娜
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