工控網(wǎng)首頁
>

新聞中心

>

業(yè)界動態(tài)

>

歐姆龍成功事例 | EFEM多材質(zhì)晶圓的凸出檢測方案

歐姆龍成功事例 | EFEM多材質(zhì)晶圓的凸出檢測方案

應(yīng)用介紹

【行業(yè)】SEMI

【設(shè)備】EFEM

【用途】用于半導(dǎo)體前道各種工藝機臺的晶圓傳輸

 

1.jpg


使用場景

檢測cassette內(nèi)wafer是否有凸出,防止自動取片時發(fā)生異常。

 

2.jpg


場景:cassette內(nèi)wafer的突出檢查


解決課題

應(yīng)對不同材質(zhì)wafer的檢測需求,例如:Si、SiC、Ga2O3等。


價值提案

核心產(chǎn)品:光纖傳感器 E32/E3NX-FA

配備自動調(diào)諧、以及APC&DPC自動投光&受光校正,方便快速對應(yīng)各種透明度的wafer。

 

3.jpg


相關(guān)產(chǎn)品

光纖傳感器E32系列

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/1532/

 

4.jpg


智能光纖放大器E3NX-FA

https://www.fa.omron.com.cn/products/family/3161/

 

5.jpg


若您對本產(chǎn)品感興趣,歡迎掃碼留下您的聯(lián)系方式,歐姆龍工程師將盡快與您聯(lián)絡(luò)!

 6.png


審核編輯(
李娜
)

提交

查看更多評論
其他資訊

查看更多

歐姆龍光電傳感器E3AS-HL操作演示:通過示教方式輕松實現(xiàn)理想設(shè)定

歐姆龍自動化官網(wǎng)煥新上線

歐姆龍成功事例:半導(dǎo)體爐管wafer凸出的遠距離穩(wěn)定檢測方案

歐姆龍光電傳感器E3AS-HL抗光干擾演示:不懼強光,穩(wěn)定檢出

歐姆龍課堂培訓(xùn) | 國產(chǎn)設(shè)備出海必修課《安全系統(tǒng)搭建》日程發(fā)布